電感耦合等離子體質譜

簡要描述：Agilent 7800 ICP-MS 結合了成熟、可靠的硬件、自動優化工具和預設方法，可實現更簡單的常規分析。憑借高基體耐受性能、寬動態范圍，以及對多原子干擾的有效控制，該系統消除了分析復雜或多樣化樣品基質的不確定性。

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快速提高常規金屬分析效率 — ICP-MS MassHunter 軟件包含預定義設置的可簡便加載和運行的預設方法，預定義設置涉及從等離子體條件到分析物積分時間及內標。對于新方法，方法向導將根據樣品類型和應用建立方法。了解關于飲用水、環境廢棄物和制藥產品解決方案中元素雜質的更多信息。
減少樣品前處理 — 7800 ICP-MS 標配*的耐高鹽進樣 (HMI) 技術，無需稀釋即可分析總溶解固體 (TDS) 含量高達 3% 的樣品，減少了樣品前處理并節省了時間。
zui大限度減小信號抑制 — HMI 能減少信號抑制，因此可以準確測定高基體樣品而無需標樣的基體匹配。
有效去除干擾，確保數據準確性 — 氦氣 (He) 碰撞模式可在同一套質譜條件下去除所有多原子離子干擾，簡化了方法開發與日常操作。He 模式無需基體特異性或分析物特異性反應池條件。
在一次運行中同時分析常量和痕量元素 — 寬動態范圍正交檢測器系統 (ODS) 可在一次運行中實現常量元素（數百或數千 ppm）與痕量元素（ppt 或亞 ppt 級）的直接分析。較高的上限濃度可減少由超量程結果造成的樣品再運行。
zui大程度提高通量和分析效率 — 可選的集成式進樣系統 (ISIS 3) 和 SPS 4 自動進樣器可在不影響數據質量的前提下降低每個樣品的分析成本。

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